加速老化测试主要是通过不同环境对电子元件进行检测，高度加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数， HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。

服务范围：IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件

标准：IEC 60068  GB/T 2423